In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01453231 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453231 , version 1

Citer

T. Cornelius, C. Mocuta, S. Escoubas, E.C. Lima, E.B. Araujo, et al.. In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction. 13th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP2016), Sep 2016, Brno, Czech Republic. ⟨hal-01453231⟩
82 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More