In situ nano-mechanical tests in the light of synchrotron X-ray diffraction - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ nano-mechanical tests in the light of synchrotron X-ray diffraction

T.W. Cornelius
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
Z. Ren
  • Fonction : Auteur
M. Dupraz
G. Beutier
  • Fonction : Auteur
M. Verdier
E. Rabkin
  • Fonction : Auteur
G. Richter
  • Fonction : Auteur
O. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01453251

Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:30:53

Dernière modification le : vendredi 19 janvier 2024-18:19:16

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01453251 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453251 , version 1

Citer

T.W. Cornelius, Z. Ren, M. Dupraz, G. Beutier, M. Verdier, et al.. In situ nano-mechanical tests in the light of synchrotron X-ray diffraction. Meeting of the French Crystallography Association (AFC 2016), Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453251⟩

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