Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

A. Merabet; M. Texier; C. Tromas; M. Verdier; A. Talneau; O. Thomas; J. Godet

Conference Papers Year :

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

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A. Merabet

Function : Author

M. Texier

Function : Author

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

C. Tromas

Function : Author

Institut Pprime

M. Verdier

Function : Author
PersonId : 742072
IdHAL : marc-verdier
ORCID : 0000-0003-0563-2675
IdRef : 123967678

A. Talneau

Function : Author

O. Thomas

Function : Author

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

J. Godet

Function : Author
PersonId : 743379
IdHAL : julien-godet
ORCID : 0000-0002-5831-2256
IdRef : 083156259

Institut Pprime

Domains

Engineering Sciences [physics] Micro and nanotechnologies/Microelectronics

IM2NP Bibliométrie : Connect in order to contact the contributor

https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01453342

Submitted on : Thursday, February 2, 2017-4:52:59 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:53:03 PM

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HAL Id : hal-01453342 , version 1

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A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante. Plasticité, Apr 2016, Poitiers, France. ⟨hal-01453342⟩

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

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