Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

A. Merabet
  • Fonction : Auteur
M. Texier
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
C. Tromas
Institut Pprime [UPR 3346]
CV
M. Verdier
A. Talneau
  • Fonction : Auteur
O. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
J. Godet
Institut Pprime [UPR 3346]

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01453342

Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:52:59

Dernière modification le : mercredi 10 avril 2024-13:58:41

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Dates et versions

hal-01453342 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453342 , version 1

Citer

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante. Plasticité, Apr 2016, Poitiers, France. ⟨hal-01453342⟩

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