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Conference papers

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

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https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01453342
Contributor : Im2np Bibliométrie <>
Submitted on : Thursday, February 2, 2017 - 4:52:59 PM
Last modification on : Thursday, March 15, 2018 - 4:56:07 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01453342, version 1

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Citation

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante. Plasticité, Apr 2016, Poitiers, France. ⟨hal-01453342⟩

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