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Conference papers

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

A. Merabet M. Texier 1 C. Tromas 2 M. Verdier A. Talneau O. Thomas 1 J. Godet 2
1 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
2 PPRIME - Institut Pprime
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01453342
Contributor : Im2np Bibliométrie <>
Submitted on : Thursday, February 2, 2017 - 4:52:59 PM
Last modification on : Monday, March 29, 2021 - 3:08:09 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01453342, version 1

Collections

UNIV-AMU | CNRS | UNIV-TLN | IM2NP | UNIV-POITIERS | PPRIME

Citation

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante. Plasticité, Apr 2016, Poitiers, France. ⟨hal-01453342⟩

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