Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X

S. Fernández; M.I. Richard; S. Labat; S. Leake; G. Chahine; P. Gentile; T. Schülli; O. Thomas

Conference Papers Year :

Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X

, (1) , , , , , , (1)

1

S. Fernández

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M.I. Richard

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IdHAL : marie-ingrid-richard
ORCID : 0000-0002-8172-3141
IdRef : 130070289

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

CV

S. Labat

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IdHAL : stephane-labat

S. Leake

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G. Chahine

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P. Gentile

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IdHAL : pascal-gentile
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T. Schülli

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O. Thomas

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Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

IM2NP Bibliométrie : Connect in order to contact the contributor

https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01453359

Submitted on : Thursday, February 2, 2017-5:00:41 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:53:03 PM

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hal-01453359 , version 1 (02-02-2017)

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HAL Id : hal-01453359 , version 1

Cite

S. Fernández, M.I. Richard, S. Labat, S. Leake, G. Chahine, et al.. Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X. Meeting of the French Crystallography Association (AFC 2016), Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453359⟩

Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X

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