Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X

S. Fernández
  • Fonction : Auteur
M.I. Richard
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
S. Labat
S. Leake
G. Chahine
  • Fonction : Auteur
P. Gentile
T. Schülli
  • Fonction : Auteur
O. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01453359

Soumis le : jeudi 2 février 2017-17:00:41

Dernière modification le : vendredi 19 janvier 2024-18:24:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01453359 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453359 , version 1

Citer

S. Fernández, M.I. Richard, S. Labat, S. Leake, G. Chahine, et al.. Caractérisation de nanofils Ge-Si cœur-coquille par diffraction cohérente des rayons X. Meeting of the French Crystallography Association (AFC 2016), Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453359⟩

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