Prediction methodology of Single Event Effect Sensitivity and application on SRAM device - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Prediction methodology of Single Event Effect Sensitivity and application on SRAM device

N. Andrianjohany
  • Fonction : Auteur
P. Pourrouquet
  • Fonction : Auteur
K. Castellani-Coulié
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
N. Chatry
  • Fonction : Auteur
W. Rahajandraibe
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
D. Standarovski
  • Fonction : Auteur
G. Rolland
  • Fonction : Auteur
R. Ecoffet
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01455417

Soumis le : vendredi 3 février 2017-15:13:11

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01455417 , version 1 (03-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01455417 , version 1

Citer

N. Andrianjohany, P. Pourrouquet, K. Castellani-Coulié, N. Chatry, W. Rahajandraibe, et al.. Prediction methodology of Single Event Effect Sensitivity and application on SRAM device. RADECS, Sep 2016, Bremen, Germany. ⟨hal-01455417⟩

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