Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01463136
Soumis le : jeudi 9 février 2017-13:59:04
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01463136 , version 1
Citer
Hassen Aziza, Jean-Michel Portal. Resistive RAM Variability Monitoring using a Ring Oscillator based Test Chip. 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany. ⟨hal-01463136⟩
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