Virtual metrology based on relevant features extraction and Just-In-Time Learning approach - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Virtual metrology based on relevant features extraction and Just-In-Time Learning approach

Mohamed Ali Jebri
  • Fonction : Auteur
El Mostafa El Adel
  • Fonction : Auteur
Guillaume Graton
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Vision et Robotique
Mustapha Ouladsine
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 756299
  • IdRef : 092724515
Laboratoire des Sciences de l'Information et des Systèmes
Jacques Pinaton
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Rousset]

Résumé

no abstract

Domaines

Informatique [cs] Automatique Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

William Domingues Vinhas  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://amu.hal.science/hal-01490129

Soumis le : mardi 14 mars 2017-22:24:20

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01490129 , version 1 (14-03-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01490129 , version 1

Citer

Mohamed Ali Jebri, El Mostafa El Adel, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton. Virtual metrology based on relevant features extraction and Just-In-Time Learning approach. Advanced Process Control at the 27th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC 2016), 2016, New-York, Unknown Region. ⟨hal-01490129⟩

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