Propriétés mécaniques aux échelles submicrométriques : apport du rayonnement X synchrotron nanofocalisé - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Propriétés mécaniques aux échelles submicrométriques : apport du rayonnement X synchrotron nanofocalisé

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01705355

Soumis le : vendredi 9 février 2018-13:31:48

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

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Dates et versions

hal-01705355 , version 1 (09-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01705355 , version 1

Citer

O. Thomas. Propriétés mécaniques aux échelles submicrométriques : apport du rayonnement X synchrotron nanofocalisé. Journée annuelle du CPT (Centre de Physique Théorique), Jun 2017, Marseille, France. ⟨hal-01705355⟩

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