Systematic in-situ nanotensile testing on a single Au nanowire with coherent X-ray diffraction - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Systematic in-situ nanotensile testing on a single Au nanowire with coherent X-ray diffraction

J. Shin
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01763102

Soumis le : mardi 10 avril 2018-17:10:00

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01763102 , version 1 (10-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01763102 , version 1

Citer

J. Shin. Systematic in-situ nanotensile testing on a single Au nanowire with coherent X-ray diffraction. 2017 ESRF User Meeting , Feb 2017, Grenoble, France. ⟨hal-01763102⟩

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