In-situ Bragg coherent X-ray diffraction during tensile testing of an individual Au nanowire - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

In-situ Bragg coherent X-ray diffraction during tensile testing of an individual Au nanowire

J. Shin
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01763105

Soumis le : mardi 10 avril 2018-17:12:00

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01763105 , version 1 (10-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01763105 , version 1

Citer

J. Shin. In-situ Bragg coherent X-ray diffraction during tensile testing of an individual Au nanowire. 2017 ECI Conference, Oct 2017, Dubrovnik, Croatia. ⟨hal-01763105⟩

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