Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year :

Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température

Domains

Engineering Sciences [physics] Micro and nanotechnologies/Microelectronics

IM2NP Bibliométrie  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01763109

Submitted on : Tuesday, April 10, 2018-5:15:01 PM

Last modification on : Wednesday, February 8, 2023-5:11:04 PM

Not file

Dates and versions

hal-01763109 , version 1 (10-04-2018)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01763109 , version 1

Cite

A. Merabet. Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température. Société française de microscopie 2017, Jul 2017, Bordeaux, France. ⟨hal-01763109⟩

Export

BibTeX TEI Dublin Core DC Terms EndNote Datacite

Collections

UNIV-TLN CNRS UNIV-AMU IM2NP
33 View
0 Download

Share

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More