Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year :

Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température

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Dates and versions

hal-01763109 , version 1 (10-04-2018)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01763109 , version 1

Cite

A. Merabet. Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température. Société française de microscopie 2017, Jul 2017, Bordeaux, France. ⟨hal-01763109⟩
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