In situ tensile tests of single Au nanowires combined with coherent X-ray diffraction - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

In situ tensile tests of single Au nanowires combined with coherent X-ray diffraction

T.W. Cornelius
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
J. Shin
S. Labat
F. Lauraux
  • Fonction : Auteur
M.-I. Richard
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
G. Richter
  • Fonction : Auteur
D.S. Gianola
  • Fonction : Auteur
O. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01781796

Soumis le : lundi 30 avril 2018-17:08:23

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01781796 , version 1 (30-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01781796 , version 1

Citer

T.W. Cornelius, J. Shin, S. Labat, F. Lauraux, M.-I. Richard, et al.. In situ tensile tests of single Au nanowires combined with coherent X-ray diffraction. E-MRS Spring Meeting 2017, May 2017, Strasbourg, France. ⟨hal-01781796⟩

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