Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

A. Taoufyq; H. Ait Ahsaine; L. Patout; A. Benlhachemi; M. Ezahri; F. Guinneton; A. Lyoussi; G. Nolibe; J.-R. Gavarri

doi:10.1016/j.jssc.2013.04.001

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Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

A. Taoufyq H. Ait Ahsaine L. Patout ¹ A. Benlhachemi M. Ezahri F. Guinneton ¹ A. Lyoussi ² G. Nolibe J.-R. Gavarri

1 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

2 LP2E - Laboratoire des Programmes Expérimentaux et d'Essais en Sûreté

SPESI - Service Physique EXpérimentale, d'essais en Sûreté et d'Instrumentation : DEN/DER

Document type :

Journal articles

Domain :

Chemical Sciences

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Contributor : Loïc Patout Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, May 11, 2018 - 4:23:19 PM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 3:48:09 AM

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