Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

A. Taoufyq; H. Ait Ahsaine; L. Patout; A. Benlhachemi; M. Ezahri; F. Guinneton; A. Lyoussi; G. Nolibe; J.-R. Gavarri

doi:10.1016/j.jssc.2013.04.001

Journal articles

Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

A. Taoufyq H. Ait Ahsaine L. Patout ¹ A. Benlhachemi M. Ezahri F. Guinneton ¹ A. Lyoussi ² G. Nolibe J.-R. Gavarri

1 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

2 LP2E - Laboratoire des Programmes Expérimentaux et d'Essais en Sûreté

SPESI - Service Physique EXpérimentale, d'essais en Sûreté et d'Instrumentation : DEN/DER

Document type :

Journal articles

Domain :

Chemical Sciences

Complete list of metadata

https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01790097
Contributor : Loïc Patout Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, May 11, 2018 - 4:23:19 PM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 3:48:09 AM

Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

Identifiers

Collections

Citation

Export

Metrics

94

Electron microscopy analyses and electrical properties of the layered Bi2WO6 phase

Identifiers

Collections

Citation

Export

Share

Metrics

94