Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Taki Eddine korabi : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01893409
Soumis le : jeudi 11 octobre 2018-13:43:25
Dernière modification le : vendredi 22 mars 2024-18:24:04
Citer
Taki Eddine Korabi, Guillaume Graton, El Mostafa El Adel, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton. A Bayesian indicator for Run-to-Run performance assessment in semiconductor manufacturing. 2018 14th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), Jul 2018, Prague, France. ⟨10.1109/PRIME.2018.8430365⟩. ⟨hal-01893409⟩
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