Article Dans Une Revue
Surface Review and Letters
Année : 1998
laurent lapena : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01964075
Soumis le : vendredi 21 décembre 2018-17:31:38
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01964075 , version 1
Citer
J.-M. Gay, L. Lapena, M. Ladevèze, M. Tolan. Structured Roughness of Si Surface Obtained by Molecular Beam Epitaxy on Highly Misoriented Si(111) Substrate. Surface Review and Letters, 1998, 05 (01), pp.31-36. ⟨hal-01964075⟩
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