Article Dans Une Revue
Defect and Diffusion Forum
Année : 2015
Christophe Girardeaux : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02044842
Soumis le : jeudi 21 février 2019-16:36:35
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02044842 , version 1
- DOI : 10.4028/www.scientific.net/DDF.363.12
Citer
Alain Portavoce, Khalid Houmada, Franck Dahlem, Christophe Girardeaux, Boubekeur Lalmi. Atomic Transport in Nano-Crystalline Silicides Studied by In Situ Auger Electron Spectroscopy: Interfacial Reaction Effect. Defect and Diffusion Forum, 2015, 363, pp.12-20. ⟨10.4028/www.scientific.net/DDF.363.12⟩. ⟨hal-02044842⟩
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