Article Dans Une Revue
Materials Letters
Année : 2009
Christophe Girardeaux : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02044979
Soumis le : jeudi 21 février 2019-17:04:18
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02044979 , version 1
Citer
A. Portavoce, N. Rodriguez, Rachid Daineche, C. Grosjean, Christophe Girardeaux. Correction of secondary ion mass spectrometry profiles for atom diffusion measurements. Materials Letters, 2009, 63 (8), pp.676-678. ⟨hal-02044979⟩
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