A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Solid-State Circuits Letters Année : 2018

A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02111066 , version 1 (25-04-2019)

Identifiants

Citer

Martin Cochet, Ben Keller, Sylvain Clerc, Fady Abouzeid, Andreia Cathelin, et al.. A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS. IEEE Solid-State Circuits Letters, 2018, 1 (1), pp.14-17. ⟨10.1109/LSSC.2018.2797427⟩. ⟨hal-02111066⟩
37 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More