Chapitre D'ouvrage
Année : 2010
Daniela Munteanu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02121292
Soumis le : lundi 6 mai 2019-14:50:31
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02121292 , version 1
Citer
Jean-Luc Autran, Daniela Munteanu, Sebastien Sauze, Philippe Roche, Gilles Gasiot. Real-Time Soft-Error Rate Characterization of Advanced SRAMs. K. Iniewski. Radiation Effects in Semiconductors, CRC Press, pp.225-247, 2010, 978-1-4398-2694-2. ⟨hal-02121292⟩
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