Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2019
Alain Portavoce : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02381654
Soumis le : mardi 26 novembre 2019-17:06:06
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
Alain Portavoce, Khalid Hoummada, Lee Chow. Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements. Microscopy and Microanalysis, 2019, 25 (02), pp.517-523. ⟨10.1017/S1431927618015623⟩. ⟨hal-02381654⟩
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