Article Dans Une Revue
Journal of Physics: Conference Series
Année : 2013
Alain Portavoce : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02385357
Soumis le : jeudi 28 novembre 2019-17:27:36
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02385357 , version 1
- DOI : 10.1088/1742-6596/471/1/012029
Citer
A. de Luca, A. Portavoce, M. Texier, N. Burle, B Pichaud. Dynamic segregation of metallic impurities at SiO 2 /Si interfaces. Journal of Physics: Conference Series, 2013, 471, pp.012029. ⟨10.1088/1742-6596/471/1/012029⟩. ⟨hal-02385357⟩
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