Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2010
Alain Portavoce : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02386090
Soumis le : vendredi 29 novembre 2019-10:46:25
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
K. Hoummada, I. Blum, D. Mangelinck, A. Portavoce. Composition measurement of the Ni-silicide transient phase by atom probe tomography. Applied Physics Letters, 2010, 96 (26), pp.261904. ⟨10.1063/1.3457995⟩. ⟨hal-02386090⟩
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