Article Dans Une Revue
Materials Letters
Année : 2009
Alain Portavoce : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02386139
Soumis le : vendredi 29 novembre 2019-11:00:14
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
A. Portavoce, N. Rodriguez, R. Daineche, C. Grosjean, C. Girardeaux. Correction of secondary ion mass spectrometry profiles for atom diffusion measurements. Materials Letters, 2009, 63 (8), pp.676-678. ⟨10.1016/j.matlet.2008.12.018⟩. ⟨hal-02386139⟩
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