Assembly and Analysis of Ordered Semiconductor Quantum Dot Arrays by Focused Ion Beam Nanofabrication and Tomography - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2007

Assembly and Analysis of Ordered Semiconductor Quantum Dot Arrays by Focused Ion Beam Nanofabrication and Tomography

R Hull
  • Fonction : Auteur
J. Graham
  • Fonction : Auteur
Department of Mathematics [Berkeley]
A Kubis
  • Fonction : Auteur
A. Portavoce
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
F Ross
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

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https://amu.hal.science/hal-02386178

Soumis le : vendredi 29 novembre 2019-11:11:57

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

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Dates et versions

hal-02386178 , version 1 (29-11-2019)

Identifiants

Citer

R Hull, J. Graham, A Kubis, A. Portavoce, F Ross. Assembly and Analysis of Ordered Semiconductor Quantum Dot Arrays by Focused Ion Beam Nanofabrication and Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2007, 13 (S02), ⟨10.1017/S1431927607072649⟩. ⟨hal-02386178⟩

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