Nanometer-scale control of single quantum dot nucleation through focused ion-beam implantation - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2007

Nanometer-scale control of single quantum dot nucleation through focused ion-beam implantation

A. Portavoce
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
R. Hull
  • Fonction : Auteur
M. Reuter
  • Fonction : Auteur
Institute of Environmental Physics [Bremen]
F. Ross
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

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Soumis le : vendredi 29 novembre 2019-11:26:21

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

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Dates et versions

hal-02386231 , version 1 (29-11-2019)

Identifiants

Citer

A. Portavoce, R. Hull, M. Reuter, F. Ross. Nanometer-scale control of single quantum dot nucleation through focused ion-beam implantation. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2007, 76 (23), ⟨10.1103/PhysRevB.76.235301⟩. ⟨hal-02386231⟩

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