D. Paul, Adv. Mater, vol.11, p.191, 1999.

J. Chevrier, A. Cruz, N. Pinto, I. Berbezier, and J. Derrien, J. Physique I, vol.4, p.1309, 1994.

W. Liu, S. Mokler, N. Ohtani, C. Roberts, and B. Joyce, Surf. Sci, vol.264, p.301, 1992.

J. Gay, P. Stocker, and F. Réthoré, J. Appl. Phys, vol.73, p.8169, 1993.

G. Bremond, M. Serpentini, A. Souifi, G. Guillot, B. Jacquier et al., Microelectron. J, vol.30, p.35, 1999.

I. Berbezier, B. Gallas, and J. Derrien, Surf. Rev. Lett, vol.5, p.133, 1998.

I. Berbezier, B. Gallas, R. A. Derrien, and J. , Surf. Sci, p.415, 1998.

A. Armigliato, R. Baldoni, F. Corticelli, and S. Frabboni, Microsc. Microanal. Microstruct, vol.6, p.449, 1995.

J. Matthews, J. Vac. Sci. Technol, vol.12, p.126, 1975.

R. Hull and J. Bean, Crit. Rev. Solid State Mater. Sci, vol.17, p.507, 1992.

S. Kamat and J. Hirth, J. Appl. Phys, vol.67, p.6844, 1990.

F. Legoues, C. M. Tromp, and R. , Phys. Rev. Lett, vol.63, p.1826, 1989.

F. Legoues, MRS Bull. XXI, vol.38, 1996.

D. Eaglesham, E. Kvam, D. Maher, C. Humphreys, and J. Bean, Phil. Mag. A, vol.59, p.2802, 1992.

M. Albrecht, S. Christiansen, H. Strunk, P. Hansson, and E. Bauser, Solid State Phenom, p.433, 1993.

J. Matthews, D. Jackson, and A. Chambers, Thin Solid Films, vol.26, p.129, 1975.

J. Van-der-merve, J. Appl. Phys, vol.34, p.117, 1963.

M. Putero, PhD Dissertation, 1999.

B. Pichaud, M. Putero, and N. Burle, J. Physique IV, vol.8, p.227, 1998.

B. Gallas, J. Hartmann, I. Berbezier, M. Abdallah, J. Zhang et al., J. Cryst. Growth, vol.201, p.547, 1999.

E. Kvam, MRS Bull, vol.104, 1987.

Y. Fukuda, Y. Kohama, M. Seki, and Y. Ochmachi, Japan. J. Appl. Phys, vol.28, p.19, 1989.

Y. Fukuda, Y. Kohama, M. Seki, and Y. Ochmachi, Japan. J. Appl. Phys, vol.27, p.1593, 1988.

F. Legoues, J. Ott, E. K. Iyer, and S. , Appl. Phys. Lett, vol.61, p.174, 1992.

R. Beanland, M. Aindow, T. Joyce, P. Kidd, M. Lourenço et al., J. Cryst. Growth, vol.149, p.1, 1995.

J. Fernandez, A. Matsumura, X. Zhang, M. Lie, H. L. Thornton et al., J. Mater. Sci, vol.6, p.330, 1995.

I. Berbezier, M. Abdallah, R. A. Bremond, and G. , Mater. Sci. Eng. B, p.367, 2000.

A. Ronda, M. Abdallah, J. Gay, J. Stettner, and I. Berbezier, Appl. Surf. Sci, p.576, 2000.

O. Pchelyakov, Y. Bolkhovityanov, A. Dvurechenskii, A. Nikiforov, A. Yakimov et al., Thin Solid Films, vol.367, p.75, 2000.

Y. Mo, D. Savage, B. Swartzentruber, and M. Lagally, Phys. Rev. Lett, vol.65, p.1020, 1990.

M. Hammar, F. Legoues, J. Tersoff, M. Reuter, and R. Tromp, Surf. Sci, vol.349, p.129, 1996.

T. Kamins, E. Carr, R. Williams, and S. Rosner, J. Appl. Phys, vol.81, p.211, 1997.

F. Liu, F. Wu, and M. Lagally, Chem. Rev, vol.97, p.1045, 1997.

P. Sutter and M. Lagally, Phys. Rev. Lett, vol.84, p.4637, 2000.

F. Legoues, M. Reuter, J. Tersoff, M. Hammar, and R. Tromp, Phys. Rev. Lett, vol.73, p.300, 1994.

H. Gao, J. Mech. Phys. Solids, vol.42, p.741, 1994.

D. E. Jesson, K. Chen, and S. Pennycook, MRS Bull. XXI, vol.31, 1996.

G. Springholz and G. Bauer, Phys. Rev. B, vol.48, p.998, 1993.

A. Cullis, MRS Bull. XXI, vol.21, 1996.

J. Grilhé, Acta Metall. Mater, vol.41, p.909, 1993.

J. Tersoff and F. Legoues, Phys. Rev. Lett, vol.72, p.3570, 1994.

P. Müller and R. Kern, Appl. Surf. Sci, vol.102, p.6, 1996.

C. Ratsch, A. Zangwill, P. Smilauer, and D. Vvedensky, Phys. Rev. Lett, vol.72, p.3194, 1994.

D. Srolovitz, Acta Metall, vol.37, p.621, 1989.

A. Pidduck, D. Robbins, A. Cullis, W. Leong, and A. Pitt, Thin Solid Films, vol.222, p.78, 1992.

D. Eaglesham, H. Gossmann, and M. Cerullo, Mater. Res. Soc. Symp. Proc, vol.198, p.51, 1990.

R. Hull, J. Bean, L. Peticolas, D. Bahnck, B. Weir et al., Appl. Phys. Lett, vol.61, p.2802, 1992.

O. Pchelyakov, V. Markov, A. Nikiforov, and L. Sokolov, Thin Solid Films, vol.306, p.299, 1997.

P. Deelman, T. T. Schowalter, and L. , Appl. Surf. Sci, p.510, 1996.

B. Gallas, I. Berbezier, R. A. Derrien, and J. , Thin Solid Films, vol.294, p.22, 1997.

F. Volpi, A. Portavoce, A. Ronda, Y. Shi, J. Gay et al., Thin Solid Films, vol.380, p.46, 2000.

F. Wu, X. Chen, Z. Zhang, and M. Lagally, Phys. Rev. Lett, vol.74, p.574, 1995.

O. Alerhand, D. Vanderbilt, R. Meade, and J. Joannopoulos, Phys. Rev. Lett, vol.61, p.1973, 1988.

L. Zong, A. Hojo, Y. Matsushita, Y. Aiba, K. Hayashi et al., Phys. Rev. B, vol.54, p.2304, 1996.

S. Mukherjee, P. E. Tersoff, and J. , Phys. Rev. B, vol.49, p.1919, 1994.

P. Smilauer and D. Vvedensky, Phys. Rev. B, vol.52, p.263, 1995.

C. Ratsch, P. Smilauer, and D. Vvedensky, J. Physique I, vol.6, p.575, 1996.

M. Siegert and M. Plischke, Phys. Rev. E, vol.50, p.917, 1994.

C. Snyder, J. Mansfield, and B. Orr, Phys. Rev. B, vol.46, p.9551, 1992.

P. Misbah and C. , Phys. Rev. Lett, vol.76, p.4761, 1996.

M. Rost, P. Smilauer, and J. Krugg, Surf. Sci, vol.369, p.393, 1996.

N. Lee, D. Cahill, and J. Greene, Phys. Rev. B, vol.53, p.7876, 1996.

C. Schelling, G. Springholz, and F. Schäffler, Phys. Rev. Lett, vol.83, p.995, 1999.

J. Floro, E. Chason, L. Freund, R. Twesten, R. Hwang et al., Phys. Rev. B, vol.59, 1990.

F. Ross, R. Tromp, and M. Reuter, Science, vol.286, p.1931, 1999.

G. Medeiros-ribeiro, A. Bratkovski, T. Kamins, D. Ohlberg, and R. Williams, Science, vol.279, p.353, 1998.

M. Goryll, L. Vescan, K. Schmidt, S. Mesters, H. Lüth et al., Appl. Phys. Lett, vol.71, p.410, 1997.

D. Jesson, S. Pennycook, J. Baribeau, and D. Houghton, Phys. Rev. Lett, vol.71, p.1744, 1993.

R. Asaro and W. Tiller, Metall. Trans, vol.3, p.1789, 1972.

M. Grinfeld, J. Intell. Mater. Syst. Struct, issue.4, 1993.

L. Lapena, I. Berbezier, B. Gallas, and J. B. , Thin Solid Films, vol.336, p.124, 1998.

I. Berbezier, B. Gallas, L. Lapena, J. Fernandez, J. Derrien et al., J. Vac. Sci. Technol. B, vol.16, p.1582, 1998.

R. Apetz, L. Vescan, A. Hartmann, C. Dieker, and H. Lüth, Appl. Phys. Lett, vol.66, p.445, 1995.

S. Fukatsu, H. Yoshida, A. Fujiwara, Y. Takahashi, and Y. Shiraki, Appl. Phys. Lett, vol.61, p.804, 1992.

P. Schittenhelm, M. Gail, J. Brunner, J. Nützel, and G. Abstreiter, Appl. Phys. Lett, vol.67, p.1292, 1995.

J. Noël, N. Rowell, D. Houghton, and D. Perovic, Appl. Phys. Lett, vol.57, p.1037, 1990.

E. Kim, U. N. Shiraki, and Y. , Appl. Phys. Lett, vol.72, p.1617, 1998.

L. Vescan, C. Dieker, A. Souifi, and T. Stoica, J. Appl. Phys, vol.81, p.6709, 1997.

V. Higgs, E. Lightowlers, N. Usami, Y. Shiraki, T. Mine et al., J. Cryst. Growth, vol.150, p.1070, 1995.

J. Brunner, T. Rupp, H. Gossner, R. Ritter, I. Eisele et al., Appl. Phys. Lett, vol.64, p.994, 1994.

M. Abdallah, I. Berbezier, P. Dawson, M. Serpentini, G. Bremond et al., Thin Solid Films, vol.336, p.256, 1998.

A. Portavoce, R. A. Berbezier, and I. , Mater. Sci. Eng. B, vol.89, p.205, 2002.

A. Portavoce, F. Volpi, R. A. Gas, P. Berbezier, and I. , Thin Solid Films, vol.380, p.164, 2000.

R. Metzger and A. , Surf. Sci, vol.137, p.397, 1984.

M. Ladevèze, G. Tréglia, P. Müller, and F. Arnaud-d'avitaya, Surf. Sci, vol.395, p.317, 1998.

S. Andrieu and F. Arnaud-d'avitaya, Surf. Sci, vol.219, p.277, 1989.

R. Metzger and A. , J. Appl. Phys, vol.55, p.931, 1984.

G. Falkenberg, L. Seehofer, and R. Johnson, Surf. Sci, p.75, 1997.

S. Jenkins and G. Srivastava, Surf. Sci, vol.398, p.308, 1998.

A. Portavoce, F. Bassani, R. A. Berbezier, and I. , Surf. Sci, 2002.

K. Fujita, S. Fukatsu, N. Usami, Y. Shiraki, H. Yaguchi et al., Surf. Sci, vol.295, p.335, 1993.

I. Berbezier, B. Gallas, J. Fernandez, and J. B. , Semicond. Sci. Technol, vol.14, p.198, 1999.

W. Ni, G. Hansson, J. Cardenas, and B. Svensson, Thin Solid Films, vol.321, p.131, 1998.

J. Ushio, K. Nakagawa, M. Miyao, and T. Maruizumi, Phys. Rev. B, vol.58, p.3932, 1998.

I. Markov, Phys. Rev. B, vol.50, p.271, 1994.

S. Oppo, V. Fiorentini, and M. Scheffler, Phys. Rev. B, vol.71, p.2437, 1993.

D. Kandel and E. Kaxiras, Phys. Rev. B, vol.75, p.2742, 1995.

S. Jang, K. Liao, and R. Reif, J. Electrochem. Soc, vol.142, p.3513, 1995.

M. Lu, J. Vitkavage, and B. Meyerson, J. Appl. Phys, vol.59, p.4032, 1986.

Q. Lu, T. Bramlett, N. Lee, M. Hasan, T. Karasawa et al., J. Appl. Phys, vol.77, p.3067, 1995.

G. Vick and K. Whittle, J. Electrochem. Soc, vol.116, p.1142, 1969.

B. Meyerson, F. Legoues, T. Nguyen, and D. Harame, Appl. Phys. Lett, vol.50, p.113, 1987.

E. Schubert, III-V Semiconductors, 1993.

N. Saitoh, T. Akamine, K. Aoki, and Y. Kojima, Japan. J. Appl. Phys, vol.32, p.4404, 1993.

S. Gates and D. Koleske, Thin Solid Films, vol.225, p.160, 1993.

Z. Zhang, M. Kulakov, B. Bullemer, I. Eisele, and A. Zotov, Appl. Phys. Lett, vol.69, p.494, 1996.

M. Larsson and G. Hansson, J. Cryst. Growth, vol.134, p.203, 1993.

H. Kim, G. Glass, S. Park, T. Spila, N. Taylor et al., Appl. Phys. Lett, vol.69, p.3869, 1996.

E. De-frésart, K. Wang, and S. Rhee, Appl. Phys. Lett, vol.53, p.48, 1988.

E. Kaxiras, Europhys. Lett, vol.21, p.685, 1993.

H. Van-der-vegt, M. Breeman, S. Ferrer, V. Etgens, X. Torrelles et al., Phys. Rev. B, vol.51, p.806, 1995.

R. Tromp and M. Reuter, Phys. Rev. Lett, vol.68, p.954, 1992.

T. Ohno, Phys. Rev. Lett, vol.73, p.460, 1994.

B. Yu and A. Oshiyama, Phys. Rev. Lett, vol.72, p.3190, 1994.

S. Fukatsu, K. Fujita, H. Yaguchi, Y. Shiraki, and R. Ito, Surf. Sci, vol.267, p.205, 1992.

H. Jorke, Surf. Sci, vol.193, p.569, 1988.

N. Ohtani, S. Mokler, M. Xie, J. Zhang, and B. Joyce, Surf. Sci, vol.284, p.305, 1993.

M. Xie, J. Zhang, A. Lees, J. Fernandez, and J. , Surf. Sci, vol.367, p.231, 1996.

X. Lu, Z. Jiang, H. Zhu, X. Zhang, and X. Wang, Appl. Phys. Lett, vol.68, p.3278, 1996.

Y. Wang and R. Hamers, Appl. Phys. Lett, vol.66, p.2057, 1995.

H. Lin, H. Lin, C. Chang, T. Jung, P. Wang et al., Am. J. Phys, vol.76, p.1884, 1994.

H. Radamson, K. Joelsson, W. Ni, H. L. Hansson, and G. , J. Cryst. Growth, vol.157, p.80, 1995.

D. Chadi, Phys. Rev. Lett, vol.59, p.1691, 1987.

B. Tillack, P. Zaumseil, G. Morgenstern, D. Krüger, and G. Ritter, Appl. Phys. Lett, vol.67, p.1143, 1995.

A. Rodriguez, T. Rodriguez, A. Sanz-hervas, A. Kling, J. Soares et al., J. Mater. Res, vol.12, p.1698, 1997.

M. Sardela, J. Ni, R. , H. Hansson, and G. , Thin Solid Films, vol.222, p.42, 1992.

G. Glass, H. Kim, M. Sardela, Q. Lu, J. Carlsson et al., Surf. Sci, vol.392, p.63, 1997.

A. Souifi, G. Bremond, T. Benyattou, G. Guillot, D. Dutartre et al., J. Vac. Sci. Technol. B, vol.10, 1992.

P. Grillot, S. Ringel, M. J. Fitzgerald, and E. , J. Appl. Phys, vol.80, p.2823, 1996.

H. Chen, W. Cheng, X. Xie, Q. Huang, and J. Zhou, Appl. Phys. Lett, vol.70, p.446, 1997.

L. Vescan, M. Goryll, T. Stoica, P. Gartner, O. Chretien et al., Appl. Phys. A, vol.71, p.423, 2000.

M. Serpentini, A. Souifi, M. Abdallah, I. Berbezier, and G. Bremond, J. Lumin, vol.80, pp.515-533, 1999.

G. Bremond, M. Serpentini, A. Souifi, G. Guillot, and J. B. , Microelectron. J, vol.30, p.357, 1999.

H. Sunamura, N. Usami, Y. Shiraki, and S. Fukatsu, Appl. Phys. Lett, vol.66, p.3024, 1995.