Journal articles
Optical absorbance enhancement by electrochemical surface roughening of CuInS 2 thin films
Romain Cayzac
Florence Boulc'H
Virginie Hornebecq
1
Thierry Djenizian
2
Marc Bendahan
3
Marcel Pasquinelli
3
Philippe Knauth
1
Marc Bendahan 3
Author IdHAL : marc-bendahan ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/B-3157-2010
Marcel Pasquinelli 3
Author
Philippe Knauth 1
Author
1
MADIREL - Matériaux divisés, interfaces, réactivité, électrochimie (Campus de St-Jérome - Case MADIREL
Avenue Escadrille Normandie-Niemen
F-13397 Marseille Cedex 20 - France)
- AMU - Aix Marseille Université : UMR7246 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7246 (France)
2
FEL-ENSMSE - Département d’Électronique Flexible (Centre de Microélectronique de Provence – CMP Georges Charpak
Département d’Électronique Flexible
880, avenue de Mimet- 13541 Gardanne - France)
3
IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (Faculté des Sciences
Avenue Escadrille Normandie Niemen
Case 142
13397 Marseille Cedex 20 - France)
- UTLN - Université de Toulon : UMR7334 /UMR6242 (Avenue de l'Université - BP 20132 - 83957 La Garde Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7334 /UMR6242 (France)
- AMU - Aix Marseille Université : UMR7334 /UMR6242 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
Document type :
Journal articles
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https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02867388
Contributor : Marc Bendahan <>
Submitted on : Sunday, June 14, 2020 - 10:15:58 AM
Last modification on : Tuesday, March 30, 2021 - 3:24:21 AM
Contributor : Marc Bendahan <>
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Last modification on : Tuesday, March 30, 2021 - 3:24:21 AM
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Identifiers
- HAL Id : hal-02867388, version 1
- DOI : 10.1557/jmr.2009.0387
Citation
Romain Cayzac, Florence Boulc'H, Virginie Hornebecq, Thierry Djenizian, Marc Bendahan, et al.. Optical absorbance enhancement by electrochemical surface roughening of CuInS 2 thin films. Journal of Materials Research, Cambridge University Press (CUP), 2009, 24 (10), pp.3044-3049. ⟨10.1557/jmr.2009.0387⟩. ⟨hal-02867388⟩
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