Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2003
Olivier Palais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-03350302
Soumis le : mardi 21 septembre 2021-11:15:20
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
O. Palais, A. Arcari. Contactless measurement of bulk lifetime and surface recombination velocity in silicon wafers. Journal of Applied Physics, 2003, 93 (8), pp.4686-4690. ⟨10.1063/1.1562741⟩. ⟨hal-03350302⟩
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