Article Dans Une Revue
Materials Science in Semiconductor Processing
Année : 2001
Olivier Palais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-03350313
Soumis le : mardi 21 septembre 2021-11:18:22
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03350313 , version 1
- DOI : 10.1016/S1369-8001(00)00162-1
Citer
O. Palais, S. Martinuzzi, J.J. Simon. Minority carrier lifetime and metallic-impurity mapping in silicon wafers. Materials Science in Semiconductor Processing, 2001, 4 (1-3), pp.27-29. ⟨10.1016/S1369-8001(00)00162-1⟩. ⟨hal-03350313⟩
21
Consultations
0
Téléchargements