Article Dans Une Revue
Review of Scientific Instruments
Année : 1999
Olivier Palais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-03350329
Soumis le : mardi 21 septembre 2021-11:23:25
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
J. Gervais, O. Palais, L. Clerc, S. Martinuzzi. Minority carrier lifetime scan map in crystalline silicon wafers. Review of Scientific Instruments, 1999, 70 (10), pp.4044-4046. ⟨10.1063/1.1150032⟩. ⟨hal-03350329⟩
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