In situ nano-mechanical tests in the light of nano- focused synchrotron X-ray diffraction - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ nano-mechanical tests in the light of nano- focused synchrotron X-ray diffraction

T. Cornelius
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
Z. Ren
  • Fonction : Auteur
C. Leclere
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
M. Dupraz
G. Beutier
  • Fonction : Auteur
M. Verdier
O. Robach
  • Fonction : Auteur
J.-S. Micha
  • Fonction : Auteur
G. Richter
  • Fonction : Auteur
E. Rabkin
  • Fonction : Auteur
O. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01452925

Soumis le : jeudi 2 février 2017-13:34:35

Dernière modification le : vendredi 19 janvier 2024-18:19:16

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01452925 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01452925 , version 1

Citer

T. Cornelius, Z. Ren, C. Leclere, M. Dupraz, G. Beutier, et al.. In situ nano-mechanical tests in the light of nano- focused synchrotron X-ray diffraction. MRS Fall Meeting 2016, Nov 2016, Boston, United States. ⟨hal-01452925⟩

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