Journal articles
Analysis of the stability of native oxide films at liquid lead/metal interfaces
C. Lesueur
Author
D. Chatain 1
Author IdHAL : dominique-chatain ORCID : https://orcid.org/0000-0002-9654-7291
Claire Bergman
Author
P. Gas 2
Author
F. Baqué 3
Author
1
CINaM - Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille (CINaM-CNRS Campus de Luminy Case 913 13288 Marseille Cedex 9 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7325 / UPR3118 (France)
- AMU - Aix Marseille Université : UMR7325 / UPR3118 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
2
L2MP - Laboratoire matériaux et microélectronique de Provence (Case 142 Av. Escadrille Normandie-Niemen 13397 MARSEILLE CEDEX 20 - France)
- Université Paul Cézanne - Aix-Marseille 3 (3, avenue Robert Schumann - 13628 Aix-en-Provence cedex 1 - France)
- Université de Provence - Aix-Marseille 1 (3, place Victor Hugo - 13331 Marseille Cedex 03 - France)
- UTLN - Université de Toulon (Avenue de l'Université - BP 20132 - 83957 La Garde Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6137 (France)
3
CEA Cadarache (13108 Saint-Paul-les-Durance Cedex - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
Document type :
Journal articles
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https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01722642
Contributor : Hal Cinam Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Sunday, March 4, 2018 - 8:33:48 PM
Last modification on : Tuesday, October 19, 2021 - 10:49:12 PM
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Identifiers
- HAL Id : hal-01722642, version 1
- DOI : 10.1051/jp4:20020330
Citation
C. Lesueur, D. Chatain, Claire Bergman, P. Gas, F. Baqué. Analysis of the stability of native oxide films at liquid lead/metal interfaces. Journal de Physique IV Proceedings, EDP Sciences, 2002, 12 (8), pp.155 - 162. ⟨10.1051/jp4:20020330⟩. ⟨hal-01722642⟩
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