TESTING THE FRICTIONAL PROPERTIES OF MoO 3 THIN FILM SURFACE WITH AFM: A NANOSCOPIC LEVEL INVESTIGATION - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Surface Review and Letters Année : 1997

TESTING THE FRICTIONAL PROPERTIES OF MoO 3 THIN FILM SURFACE WITH AFM: A NANOSCOPIC LEVEL INVESTIGATION

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01770315 , version 1 (18-04-2018)

Identifiants

Citer

Hubert Klein, D. Pailharey, Y. Mathey, F. Torregrossa. TESTING THE FRICTIONAL PROPERTIES OF MoO 3 THIN FILM SURFACE WITH AFM: A NANOSCOPIC LEVEL INVESTIGATION. Surface Review and Letters, 1997, 04 (05), pp.1031 - 1034. ⟨10.1142/S0218625X97001231⟩. ⟨hal-01770315⟩
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