Terrestrial Neutron-Induced Single Events in GaN - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2019

Terrestrial Neutron-Induced Single Events in GaN

Résumé

We study the physical mechanisms of single event production in GaN wide-bandgap semiconductor subjected to atmospheric high-energy (>1 MeV) neutron irradiation. The interactions of incident neutrons with the target material are investigated with Geant4 and the transport of the deposited charge simulated using our random-walk drift-diffusion (RWDD) modeling approach in a generic reversely biased bulk junction.
Fichier principal
Vignette du fichier
MRel_2019_Munteanu_HAL.pdf (3.41 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Loading...

Dates et versions

hal-02263526 , version 1 (10-11-2020)

Identifiants

Citer

Daniela Munteanu, Jean-Luc Autran. Terrestrial Neutron-Induced Single Events in GaN. Microelectronics Reliability, 2019, 100-101, pp.113357. ⟨10.1016/j.microrel.2019.06.049⟩. ⟨hal-02263526⟩
80 Consultations
123 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More