Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01705353
Soumis le : vendredi 9 février 2018-13:29:01
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01705353 , version 1
Citer
M. Texier. Extended defects in semiconducting materials investigated by transmission electron microscopy: structure and mobilities. UNESP, Sep 2017, São Paulo Brazil. ⟨hal-01705353⟩
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