AES measurements of Sb mass transport in amorphous Si thin films - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal de Physique IV Proceedings Année : 2006
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Dates et versions

hal-02045004 , version 1 (21-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02045004 , version 1

Citer

J. Nyéki, Christophe Girardeaux, A. Rolland, J. Bernardini. AES measurements of Sb mass transport in amorphous Si thin films. Journal de Physique IV Proceedings, 2006, 132, pp.255-258. ⟨hal-02045004⟩
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