Chapitre D'ouvrage
Année : 2014
Daniela Munteanu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-02119405
Soumis le : vendredi 3 mai 2019-17:18:19
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
Daniela Munteanu, Jean-Luc Autran. Investigation of Sensitivity to Heavy-Ion Irradiation of Junctionless Double-Gate MOSFETs by 3-D Numerical Simulation. J. Awrejcewicz. Computational and Numerical Simulations, INTECH, 2014, ⟨10.5772/57048⟩. ⟨hal-02119405⟩
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